G01N 23/00 - Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе G01N 21/00 или G01N 22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения (G01N 3/00-G01N 17/00 имеют преимущество; измерение силы вообще G01L 1/00; измерение ядерного или рентгеновского излучения G01T; введение объектов или материалов в ядерные реакторы, извлечение их из ядерных реакторов или хранение их после обработки в ядерных реакторах G21C; конструкция или принцип действия рентгеновских аппаратов или схемы для них H05G)
23/02 . путем пропускания излучений через материал
23/04 . . с последующим получением изображения (электронные микроскопы H01J)
23/05 . . . с использованием нейтронов [3]
23/06 . . с последующим измерением поглощения
23/08 . . . с помощью электрических средств обнаружения
23/083 . . . . рентгеновского излучения (G01N 23/10-G01N 23/18 имеют преимущество) [5]
23/087 . . . . . с использованием полиэнергетического рентгеновского излучения [5]
23/09 . . . . нейтронного излучения [3]
23/10 . . . . материалов, заключенных в сосуд (G01N 23/09 имеет преимущество) [3]
23/12 . . . . жидких, газообразных или сыпучих веществ (G01N 23/09 имеет преимущество) [3]
23/14 . . . . . с регулированием или контролем процессов или с сигнализацией
23/16 . . . . движущихся листовых материалов (G01N 23/09, G01N 23/18 имеют преимущество) [3]
23/18 . . . . обнаружение локальных дефектов или вкраплений (G01N 23/09 имеет преимущество) [3,5]
23/20 . с помощью дифракции, например для исследования структуры кристаллов; с помощью отраженного излучения
23/201 . . путем измерения малых углов рассеяния [2]
23/202 . . . с использованием нейтронов [3]
23/203 . . путем измерения обратного рассеяния [2]
23/204 . . . с использованием нейтронов [3]
23/205 . . дифракционными камерами (G01N 23/201 имеет преимущество) [2]
23/206 . . . с использованием нейтронного излучения [3]
23/207 . . средствами дифрактометрии с использованием детекторов, например с использованием различающего спектр кристалла или анализируемого кристалла, расположенного в центре, и одного или нескольких детекторов, перемещаемых по окружности (G01N 23/201 имеет преимущество; спектрометрия интенсивности индикаторного или измеряемого излучения G01T 1/36) [2]
23/22 . измерением вторичной эмиссии [2]
23/221 . . активационным анализом [2]
23/222 . . . с использованием нейтронов [3]
23/223 . . облучением образца рентгеновскими лучами и измерением рентгенофлуоресценции [2]
23/225 . . с использованием электронного или ионного микроскопа (трубки с электронным или ионным пучком для микроанализа H01J 37/00) [2]
23/227 . . измерением фотоэлектрического эффекта, например оже-электронов [2]