23/02 | . | путем пропускания излучений через материал |
23/04 | . | . | с последующим получением изображения (электронные микроскопы H01J) |
23/05 | . | . | . | с использованием нейтронов [3] |
23/06 | . | . | с последующим измерением поглощения |
23/08 | . | . | . | с помощью электрических средств обнаружения |
23/083 | . | . | . | . | рентгеновского излучения (G01N 23/10-G01N 23/18 имеют преимущество) [5] |
23/087 | . | . | . | . | . | с использованием полиэнергетического рентгеновского излучения [5] |
23/09 | . | . | . | . | нейтронного излучения [3] |
23/10 | . | . | . | . | материалов, заключенных в сосуд (G01N 23/09 имеет преимущество) [3] |
23/12 | . | . | . | . | жидких, газообразных или сыпучих веществ (G01N 23/09 имеет преимущество) [3] |
23/14 | . | . | . | . | . | с регулированием или контролем процессов или с сигнализацией |
23/16 | . | . | . | . | движущихся листовых материалов (G01N 23/09, G01N 23/18 имеют преимущество) [3] |
23/18 | . | . | . | . | обнаружение локальных дефектов или вкраплений (G01N 23/09 имеет преимущество) [3,5] |
23/20 | . | с помощью дифракции, например для исследования структуры кристаллов; с помощью отраженного излучения |
23/201 | . | . | путем измерения малых углов рассеяния [2] |
23/202 | . | . | . | с использованием нейтронов [3] |
23/203 | . | . | путем измерения обратного рассеяния [2] |
23/204 | . | . | . | с использованием нейтронов [3] |
23/205 | . | . | дифракционными камерами (G01N 23/201 имеет преимущество) [2] |
23/206 | . | . | . | с использованием нейтронного излучения [3] |
23/207 | . | . | средствами дифрактометрии с использованием детекторов, например с использованием различающего спектр кристалла или анализируемого кристалла, расположенного в центре, и одного или нескольких детекторов, перемещаемых по окружности (G01N 23/201 имеет преимущество; спектрометрия интенсивности индикаторного или измеряемого излучения G01T 1/36) [2] |
23/22 | . | измерением вторичной эмиссии [2] |
23/221 | . | . | активационным анализом [2] |
23/222 | . | . | . | с использованием нейтронов [3] |
23/223 | . | . | облучением образца рентгеновскими лучами и измерением рентгенофлуоресценции [2] |
23/225 | . | . | с использованием электронного или ионного микроскопа (трубки с электронным или ионным пучком для микроанализа H01J 37/00) [2] |
23/227 | . | . | измерением фотоэлектрического эффекта, например оже-электронов [2] |